Nicomp 380系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。
还基于多普勒电泳光散射原理 (Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS) 检测ZETA电位。
其主要用于检测纳米级别及亚微米级别的体系，粒径检测范围0.3nm-10 um, ZETA电位检测范国为+/-500mV。
动态光散射方法(DLS) 从传统的光散射理论中 分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。
我们通过光强值的波动得到自相关函数，从 而获得豪减时间常量，根据公式换算获得粒子的扩散速度D(Difusion，扩散系数）。

仪器型号：
Nicomp N3000 纳米粒度分析仪
Nicomp Z3000纳米粒度及点位分析仪

工作原理：动态光散射

检测范围：
粒径检测：0.3nm~10μm
Zeta电位：-500mV~+500mV

检测范围：0.5μm~400μm （可拓展至0.15μm~5000μm）
样品浓度：10（9次方）个/mL
采用自送稀释模式，可以有效将高浓度样品快速稀释至何时浓度并进行检测
针对易沉降颗粒
采用meter pump抽样模式，优先识别更大颗粒，确保检测准确，完整可靠。

应用：医药（原料药、混悬剂、微球），粉体、墨水等

检测范围：0.5μm~400μm （可拓展至0.15μm~5000μm）
样品浓度：10（11次方）个/mL
采用全自动二步稀释结合定量环进样，封闭式检测空间，一体化检测流程。
实现了真正的单接口，一站式检测
操作简便，测试结果稳定可靠

应用：医药（乳剂、脂质体），半导体（CMP Slurry）、墨水等